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電子元器件失效分析技術(shù)及經(jīng)典案例課綱


關(guān)鍵詞:電子元器件
課程簡介:(李少平主講)
電子產(chǎn)品在不斷與失效作斗爭中提高可靠性,失效分析是與產(chǎn)品失效作斗爭的最有效的工具,通過對失效產(chǎn)品的失效分析,診斷失效產(chǎn)品的失效機(jī)理,以失效機(jī)理為引導(dǎo),進(jìn)一步分析誘發(fā)失效機(jī)理的應(yīng)力,從而診斷引起產(chǎn)品失效的根本原因,最終,從產(chǎn)品失效的根本原因所涉及的因素(如產(chǎn)品的材料、結(jié)構(gòu)、工藝的缺陷,或產(chǎn)品使用不合理)入手,采取有針對性的措施,徹底消滅產(chǎn)品失效或有效控制產(chǎn)品失效。

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